| 深圳赛普思科技有限公司
主营产品： XRD，SEM，SAM，LIBS |
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| 产品图片 | 产品名称 | |||
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缺陷分析－超声波扫描显微镜（ＳＡＭ） 简单介绍：缺陷分析－超声波扫描显微镜（ＳＡＭ）学名是：扫描声学显微镜Scanning Acoustic Microscope，简称SAM。它是基于声波脉冲反射和透射原理工作的，只要声波信号在样品表面或者内部遇到声波阻抗（如遇到孔隙、气泡等），就会发生反射。 SAM主要用于材料浅表层结构分析、材料力学性能的检测、无损检测等。 产品型号： 所在地：深圳市 更新时间：2017-07-15 |
参考价:面议 询价留言 | ||
